oprava existující anotace, přidání nové anotace
|
Název: |
| Infrared ellipsometry on semiconductor layer structures : phonons, plasmons, and polaritons |
Autor: |
| Mathias Schubert |
Rok vydání: |
| |
Identifikátory: |
| 9783642062285 |
|
© 2013-2026 Obálkyknih.cz - Jihočeská vědecká knihovna v Českých Budějovicích, admin@obalkyknih.cz