oprava existující anotace, přidání nové anotace
|
Název: |
| Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis |
Autor: |
| Joseph Goldstein, Dale E. Newbury, Joseph R. Michael, Nicholas W. M. Ritchie, John Henry J. Scott, David C. Joy |
Rok vydání: |
| |
Identifikátory: |
| 9781493966745 |
|
© 2013-2024 Obálkyknih.cz - Jihočeská vědecká knihovna v Českých Budějovicích, admin@obalkyknih.cz