Obálkyknih.cz - Jihočeská vědecká knihovna v Českých Budějovicích

oprava existující anotace, přidání nové anotace

Název:		Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM
Autor:
Rok vydání:		2005
Identifikátory:		9780387258003

Upravte stávající anotaci nebo vložte anotaci novou.
Anotace:	Scanning and stationary-beam electron microscopes are indispensable tools for both research and routine evaluation in materials science, the semiconductor industry, nanotechnology and the biological, forensic, and medical sciences. This book introduces current theory and practice of electron microscopy, primarily for undergraduates who need to understand how the principles of physics apply in an area of technology that has contributed greatly to our understanding of life processes and "inner space." Physical Principles of Electron Microscopy will appeal to technologists who use electron microscopes and to graduate students, university teachers and researchers who need a concise reference on the basic principles of microscopy.
	Souhlasím s využitím anotace pro potřeby projektu obálkyknih.cz. Obsah neporušuje autorská práva.(povinné)