Projekt Obalkyknih.cz

oprava existující anotace, přidání nové anotace




Název:

Elipsometrie povrchů a tenkých vrstev : vývoj a aplikace zařízení = Ellipsometry of thin films and surfaces - development and application of apparatus

Autor:

Petr Tichopádek

Rok vydání:

2006

Identifikátory:

9788021431386 cnb001643216 (OCoLC)85718801

Upravte stávající anotaci nebo vložte anotaci novou.
Souhlasím s využitím anotace pro potřeby projektu obálkyknih.cz. Obsah neporušuje autorská práva.(povinné)







© 2013-2024 Obálkyknih.cz - Jihočeská vědecká knihovna v Českých Budějovicích, admin@obalkyknih.cz