Obálkyknih.cz - Jihočeská vědecká knihovna v Českých Budějovicích

oprava existující anotace, přidání nové anotace

Název:		Určování tloušťky tenké vrstvy pomocí metod spektrální interferometrie a reflektometrie =Determination of the thin film thickness using spectral interferometry and reflectometry methods
Autor:		Luňáček Jiří
Rok vydání:		2010
Identifikátory:		9788001045589 cnb002107452 (OCoLC)655155304

Upravte stávající anotaci nebo vložte anotaci novou.
Anotace:
	Souhlasím s využitím anotace pro potřeby projektu obálkyknih.cz. Obsah neporušuje autorská práva.(povinné)