Obálkyknih.cz - Jihočeská vědecká knihovna v Českých Budějovicích

oprava existující anotace, přidání nové anotace

Název:		High-resolution X-ray scattering : from thin films to lateral nanostructures
Autor:		Ullrich Pietsch, Václav Holý, Tilo Baumbach
Rok vydání:		2004
Identifikátory:		9780387400921

Upravte stávající anotaci nebo vložte anotaci novou.
Anotace:	<P>The book presents a detailed description of high-resolution x-ray scattering methods suitable for the investigation of the real structure of single-crystalline layers and multilayers, including structure defects in the layers and at the interfaces. Particular attention is devoted to lateral structures in semiconductors and semiconductor multilayers such as quantum wires and quantum dots. Both the theoretical background and the application of the methods are discussed. The second edition is extended to deal with lateral surface nanostructures such as gratings and dots, new examples for measuring layer thickness, lattice mismatch, and surface/interface roughness. The book will be an invaluable source for graduates and scientists. </P>
	Souhlasím s využitím anotace pro potřeby projektu obálkyknih.cz. Obsah neporušuje autorská práva.(povinné)