oprava existující anotace, přidání nové anotace
|
Název: |
| Thin film analysis by X-ray scattering |
Autor: |
| Mario Birkholz, Paul F. Fewster, Christoph Genzel |
Rok vydání: |
| 2006 |
Identifikátory: |
| 9783527310524 |
|
© 2013-2024 Obálkyknih.cz - Jihočeská vědecká knihovna v Českých Budějovicích, admin@obalkyknih.cz